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        1. 首(shou)頁 > 技(ji)術支持 > 天平為(wei)什麽(me)每(mei)天(tian)都要校準(zhun)?

          天(tian)平為(wei)什麽(me)每(mei)天(tian)都要校準(zhun)?

          點擊次數:731     更新(xin)時(shi)間:2025-10-13

             電子天平是(shi)藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室最常(chang)見(jian)的稱(cheng)量(liang)器(qi)具(ju),電子天平的合理(li)使用和(he)維(wei)護對(dui)檢(jian)測數據的準(zhun)確(que)性起(qi)著(zhe)重(zhong)要(yao)的作(zuo)用(yong)。根(gen)據我國(guo)《計量(liang)法(fa)》和(he)《強制(zhi)檢(jian)定的工作(zuo)計(ji)量(liang)器(qi)具(ju)檢(jian)定管理(li)辦法(fa)》的規定,藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室的電子天平應(ying)定期定點由經授權的法(fa)定計量(liang)部(bu)門(men)進行強制(zhi)檢(jian)定,按照JJG1036-2008《電子天平檢(jian)定規程(cheng)》[1]實施,檢(jian)定周(zhou)期壹般不(bu)超過(guo)1年。

          除我國(guo)強(qiang)制(zhi)計量(liang)的規定外,目(mu)前(qian)國際通(tong)行(xing)的OQ、PQ及期(qi)間(jian)核查構(gou)成(cheng)了量(liang)值溯源(yuan)的重(zhong)要(yao)保證。此(ci)外,藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室還須(xu)對(dui)電子天平進行日常(chang)核查。RB/T 214-2017《檢(jian)驗檢(jian)測機構(gou)資(zi)質(zhi)認定能力(li)評價(jia)檢(jian)驗檢(jian)測機構(gou)通(tong)用(yong)要求(qiu)》[2]和(he)CNAS-CL01《檢(jian)測和(he)校準(zhun)實驗室能(neng)力(li)認可(ke)準(zhun)則(ze)》[3]規定,當需要(yao)利用(yong)期間核查以保持設(she)備的可(ke)信(xin)度(du)時(shi),應建立和(he)保持相關(guan)的程(cheng)序(xu)。根(gen)據《WHO藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室管(guan)理(li)規範(fan)(WHO Technical Report Series,No.957,2010)》[4],天(tian)平應(ying)每(mei)日進行內(nei)校,並(bing)周(zhou)期性地(di)采(cai)用(yong)標(biao)準(zhun)砝(fa)碼或(huo)核查砝碼進行日常(chang)核查。日常(chang)核查的目(mu)的是(shi)確(que)保天平在(zai)每(mei)天(tian)使用時保持良好的準(zhun)確(que)度(du)和(he)穩定性。因此(ci),為(wei)確(que)保檢(jian)測結(jie)果的有(you)效性,實驗室須(xu)對(dui)性能(neng)不(bu)太(tai)穩定、使用頻度(du)高、容(rong)易(yi)產(chan)生(sheng)漂(piao)移、因出現過(guo)載(zai)可能(neng)造(zao)成(cheng)損(sun)壞的,或(huo)對(dui)檢(jian)測數據有(you)疑問(wen)的設(she)備進行期間(jian)核查或(huo)日常(chang)核查,以保證設(she)備的可(ke)信(xin)度(du)、可(ke)靠性和(he)穩定性。電子天平的期(qi)間(jian)核查、日常(chang)核查頻率應基於風險程度(du)的大小評估(gu)而(er)定。

          目(mu)前(qian)國內(nei)藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室均(jun)已(yi)開展了多年的天(tian)平核查工作(zuo),但(dan)由於沒(mei)有(you)統壹的參(can)考(kao)標(biao)準(zhun)和(he)規定,導致(zhi)不(bu)同實驗室對(dui)電子天平核查有(you)不同(tong)的掌(zhang)握程(cheng)度(du)和(he)實施方法(fa)。本文就(jiu)藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室的電子天平期(qi)間(jian)核查和(he)日常(chang)核查的實施方法(fa)、註意(yi)事項和(he)意(yi)義(yi)展開了探討,為(wei)相關(guan)實驗室進行上述(shu)核查工作(zuo)提(ti)供了思(si)路。

          1 電子天平簡(jian)介

          1.1 工作(zuo)原(yuan)理(li)

          電子天平主(zhu)要(yao)采(cai)用(yong)電磁(ci)力(li)平衡(heng)傳(chuan)感器(qi),通(tong)過(guo)電磁(ci)力(li)與重(zhong)力(li)相平衡(heng)的原(yuan)理(li)實現稱(cheng)量(liang)[5]。天平秤盤與(yu)壹放置(zhi)於磁(ci)場(chang)中的線(xian)圈(quan)相連,秤盤上的被稱(cheng)量(liang)物體(ti)產(chan)生(sheng)的重(zhong)力(li),會使線圈產(chan)生(sheng)大小相等(deng)且(qie)方向相反的電磁(ci)力(li),此(ci)時通(tong)過(guo)線(xian)圈的電流(liu)強度(du)與(yu)被稱(cheng)量(liang)物體(ti)重(zhong)力(li)呈(cheng)正(zheng)比(bi)。通(tong)過(guo)該(gai)電流(liu)強度(du)可(ke)以換算(suan)出物(wu)體(ti)的重(zhong)量(liang),並於(yu)電子天平面(mian)板(ban)上顯(xian)示。基於其工作(zuo)原(yuan)理(li)和(he)較為(wei)復雜(za)的內(nei)部(bu)結(jie)構(gou),電子天平的穩(wen)定性受(shou)諸多因素的影(ying)響(xiang),這也是天平在(zai)核查時應註意(yi)的問(wen)題。

          1.2 影(ying)響(xiang)天平核查結(jie)果的因素

          1.2.1 預熱

          當天(tian)平尚處(chu)於預(yu)熱狀態時,線(xian)圈(quan)的溫(wen)度(du)不(bu)斷(duan)升高,線(xian)圈(quan)產(chan)生(sheng)的電磁(ci)力(li)和(he)負載(zai)始(shi)終(zhong)無(wu)法(fa)平衡(heng),此(ci)時天(tian)平示值會向單方向漂移,直(zhi)至天平完成預熱後,示值才(cai)會趨於穩(wen)定。因此(ci),天平在(zai)使用前(qian)必(bi)須(xu)預(yu)熱,精(jing)度(du)越高的天(tian)平,所(suo)需的預(yu)熱時間也越長(chang)。據文獻報(bao)道(dao),實驗室中常(chang)用(yong)的實際分(fen)度(du)值d(即相鄰兩(liang)個示值之(zhi)差)為(wei)0.01 mg、0.1 mg和(he)10 mg以上的天(tian)平應(ying)分(fen)別(bie)預熱12 hr、4 hr和(he)30 min以上[6]。經(jing)常(chang)使用的天(tian)平在(zai)實驗室過(guo)夜(ye)時不(bu)應(ying)切(qie)斷(duan)電源(yuan),只須關(guan)閉(bi)天平的顯(xian)示屏開關(guan)即可,此(ci)時天(tian)平仍(reng)處(chu)於通(tong)電狀(zhuang)態,次日無(wu)須(xu)預熱便可正(zheng)常(chang)工作(zuo)。如(ru)必(bi)須(xu)要(yao)切(qie)斷(duan)電源(yuan)的,在(zai)恢(hui)復天(tian)平工作(zuo)時(shi)應(ying)嚴格按照說(shuo)明(ming)書的要(yao)求(qiu)進行預熱。

          1.2.2 預壓

          處於通(tong)電狀(zhuang)態的天(tian)平若長(chang)時間(jian)未工作(zuo),會進入休眠狀(zhuang)態,須對(dui)天(tian)平進行預壓,以(yi)喚(huan)醒彈(dan)簧(huang)片的彈(dan)性。通(tong)常(chang)可(ke)采(cai)用(yong)接近(jin)天(tian)平最大量(liang)程的砝(fa)碼(ma)或(huo)物(wu)體(ti),重(zhong)復進行加(jia)載(zai)和(he)卸(xie)載,目(mu)的是(shi)為(wei)縮(suo)短(duan)電子天平的進程示值和(he)回(hui)程示值間(jian)的差(cha)距(ju),此(ci)時不(bu)需要(yao)考(kao)慮(lv)稱(cheng)量(liang)結(jie)果或(huo)是(shi)否(fou)回(hui)零。

          1.2.3 工作(zuo)環(huan)境(jing)

          天平工作(zuo)的適宜溫(wen)度(du)為(wei)18℃~25℃,相對濕度(du)要(yao)求壹般不(bu)超過(guo)80%,電源(yuan)的電壓範(fan)圍為(wei)187~242 V,頻(pin)率為(wei)49.0~51.0 Hz。應(ying)避免(mian)將天平放(fang)置(zhi)在(zai)空(kong)氣直(zhi)接對流(liu)處(chu)、空(kong)調(tiao)出(chu)風(feng)口(kou)和(he)電磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)較高的環(huan)境(jing)中,避免(mian)陽(yang)光直射(she)及與(yu)其他(ta)大功率(lv)的儀(yi)器(qi)共(gong)用(yong)同壹個電源(yuan)。

          1.2.4 測量(liang)溫(wen)度(du)

          待稱(cheng)量(liang)物體(ti)應與環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)壹致,否(fou)則會引起空(kong)氣對(dui)流(liu),影(ying)響(xiang)稱(cheng)量(liang)結(jie)果。因此(ci),冷藏(zang)或(huo)冷(leng)凍的樣(yang)品或(huo)對(dui)照品等(deng),壹定要等(deng)其達(da)到室(shi)溫(wen)後(hou)方可稱(cheng)量(liang)。對於(yu)天平的核查,建議(yi)提(ti)前(qian)將砝碼(ma)放(fang)置(zhi)在(zai)該(gai)電子天平所(suo)在(zai)的實驗房(fang)間(jian)1~2 hr,以(yi)保證溫(wen)度(du)的壹致性。

          1.3 最大允許(xu)誤差(cha)(MPE)

          最大允許(xu)誤差(cha)(MPE)是天平檢(jian)定和(he)核查過(guo)程(cheng)中的壹個關(guan)鍵參(can)數,與天(tian)平的準(zhun)確(que)度(du)級別以及相應的載(zai)荷(he)m有(you)關(guan)。《中國(guo)藥(yao)典(dian)》規定的“精(jing)密(mi)稱(cheng)取"系指稱(cheng)取重(zhong)量(liang)準(zhun)確(que)至所(suo)取重(zhong)量(liang)的千分(fen)之(zhi)壹,如(ru)需精(jing)密(mi)稱(cheng)取10 mg的樣(yang)品,應(ying)采(cai)用(yong)實際分(fen)度(du)值d為(wei)0.01 mg的電子天平。因此(ci),藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室壹般配(pei)備實際分(fen)度(du)值d為(wei)0.1 mg和(he)0.01 mg的Ⅰ級天平進行含(han)量(liang)測定、有(you)關(guan)物(wu)質(zhi)等(deng)項目(mu)的樣(yang)品稱(cheng)量(liang),另需配(pei)備d≥1 mg的Ⅱ級或(huo)Ⅲ級天平進行檢(jian)查和(he)鑒別等(deng)項目(mu)的樣(yang)品稱(cheng)量(liang)。載荷(he)m是(shi)指(zhi)加(jia)載(zai)的重(zhong)量(liang)與檢(jian)定分(fen)度(du)值e之(zhi)比(bi),e由檢(jian)定證書(shu)提(ti)供,壹般滿(man)足(zu)d≤e≤10 d的條(tiao)件(jian)。

          以Mettler Toledo公司(si)生(sheng)產(chan)的XP205型電子天平為(wei)例(li):Ⅰ級天平;最大稱(cheng)量(liang)220 g;實際分(fen)度(du)值d為(wei)0.01 mg;檢(jian)定分(fen)度(du)值e為(wei)0.1 mg,即10 d。


          2 期(qi)間核查

          2.1 參(can)考(kao)標(biao)準(zhun)的選擇

          電子天平期(qi)間(jian)核查所(suo)用的參(can)考(kao)標(biao)準(zhun)壹般有(you)三種(zhong):(1)用高壹級準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級的經(jing)檢(jian)定的砝(fa)碼(ma)進行核查;(2)用性能(neng)穩(wen)定的稱(cheng)量(liang)物體(ti)進行核查,壹般為(wei)未(wei)經檢(jian)定但由實驗室通(tong)過(guo)附(fu)加(jia)測量(liang)賦(fu)予(yu)參(can)考(kao)重(zhong)量(liang)的砝(fa)碼(ma);(3)與同(tong)準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級的天(tian)平進行比(bi)對。

          2.1.1 用高準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級砝碼進行核查

          推(tui)薦(jian)藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室采(cai)用(yong)此(ci)方法(fa)。砝(fa)碼(ma)應(ying)按(an)照JJG99-2006《砝碼檢(jian)定規程(cheng)》[7]進行定期檢(jian)定,合格後方能使用。如(ru)某壹標稱(cheng)質(zhi)量(liang)為(wei)200 g的E2砝(fa)碼(ma),檢(jian)定結(jie)果折算(suan)質(zhi)量(liang)值為(wei)200.00014 g,則(ze)其折算(suan)質(zhi)量(liang)修正(zheng)值為(wei)0.14 mg,小於檢(jian)定規程(cheng)中規定的質(zhi)量(liang)允差(cha)(±0.3 mg),檢(jian)定合格。200.00014 g即作(zuo)為(wei)該(gai)砝碼(ma)的實際質(zhi)量(liang)代入後(hou)續(xu)天平核查中的計(ji)算(suan)。每年對(dui)砝(fa)碼定期送(song)檢(jian),可(ke)及時(shi)在(zai)後(hou)續(xu)的核查工作(zuo)中更(geng)新(xin)砝碼(ma)折算(suan)質(zhi)量(liang)值,並(bing)可通(tong)過(guo)檢(jian)定報(bao)告發(fa)現由於實驗室保存不(bu)當引起的磨(mo)損、腐(fu)蝕所(suo)造成的砝(fa)碼(ma)質(zhi)量(liang)的變化(hua)。

          2.1.2 用性能(neng)穩(wen)定的稱(cheng)量(liang)物體(ti)進行核查

          此(ci)方法(fa)可(ke)選用天平購買(mai)時附贈的砝(fa)碼(ma),省減(jian)了購置(zhi)和(he)檢(jian)定高準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級砝碼的成(cheng)本。由於該(gai)砝碼僅有(you)標示值,實驗室須(xu)自行對(dui)砝(fa)碼的質(zhi)量(liang)進行賦(fu)值。具(ju)體(ti)的方法(fa):在(zai)天(tian)平通(tong)過(guo)檢(jian)定後,立(li)即對該(gai)砝碼(ma)重(zhong)復進行 ≥10次測量(liang),計算(suan)測量(liang)的平均(jun)值,再(zai)根(gen)據天平檢(jian)定證書(shu)上提(ti)供的相應載(zai)荷(he)下的示值誤(wu)差,獲得該砝(fa)碼(ma)的質(zhi)量(liang)參考(kao)值,在(zai)後(hou)續(xu)的核查中即采(cai)用(yong)此(ci)質(zhi)量(liang)參考(kao)值代(dai)入計(ji)算(suan)[8]。此(ci)方法(fa)雖然(ran)成本較低,但應(ying)註意(yi)以下幾點潛在(zai)的風(feng)險:(1)砝碼(ma)的質(zhi)量(liang)參考(kao)值系(xi)由天平賦(fu)值,根(gen)據量(liang)值傳(chuan)遞,此(ci)砝碼(ma)的準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級較低,誤差(cha)較大,在(zai)後(hou)續(xu)的期(qi)間(jian)核查時須充分(fen)考(kao)慮(lv)檢(jian)定時的環(huan)境(jing)條件(jian),盡(jin)量(liang)避免(mian)由於環(huan)境的變化(hua)引起的稱(cheng)量(liang)誤差(cha);(2)砝碼(ma)自身未(wei)經檢(jian)定,須靠每次天(tian)平檢(jian)定後立(li)即重(zhong)新(xin)進行賦(fu)值,則(ze)該砝(fa)碼的磨(mo)損、腐(fu)蝕情(qing)況(kuang)不(bu)容(rong)易被發(fa)現,若兩(liang)次檢(jian)定後對(dui)砝(fa)碼的賦(fu)值結(jie)果差異較大,應停(ting)止使用該砝(fa)碼(ma),查找原因。

          2.1.3 用同準(zhun)確(que)度(du)等(deng)級的天(tian)平進行比(bi)對

          此(ci)方法(fa)多用來核查兩(liang)臺(tai)天平的壹致性。對(dui)於(yu)兩(liang)臺(tai)可以溯源(yuan)到同(tong)壹計量(liang)標準(zhun)的天(tian)平,可(ke)以(yi)由同壹人員(yuan)在(zai)測量(liang)條件(jian)相同的條(tiao)件(jian)下,用同壹檢(jian)測對象(xiang)(如(ru)經檢(jian)定的砝(fa)碼(ma)或(huo)經(jing)實驗室賦(fu)值的砝(fa)碼(ma))各進行≥10次測量(liang)

          式(shi)中:y1和(he)y2分(fen)別(bie)為(wei)天(tian)平1和(he)天平2的測量(liang)平均(jun)值;U1和(he)U2分(fen)別(bie)為(wei)天(tian)平1和(he)天平2測量(liang)值的擴(kuo)展(zhan)不(bu)確(que)定度(du),k=2。

          此(ci)方法(fa)操作(zuo)比(bi)第壹種(zhong)方法(fa)繁(fan)瑣(suo),如(ru)采(cai)用(yong)未(wei)經檢(jian)定的砝(fa)碼(ma),也須由實驗室自行賦(fu)值,仍(reng)須考(kao)慮(lv)潛在(zai)的風(feng)險。

          2.2 核查項目(mu)的選擇

          參照電子天平檢(jian)定規程(cheng),壹般選擇重(zhong)復性和(he)示值誤(wu)差兩(liang)個項目(mu)進行期間(jian)核查。

          2.2.1 重(zhong)復性

          選擇80%~100%最大秤量(liang)的單(dan)個砝碼(ma),重(zhong)復測量(liang)≥6次,多次測量(liang)結(jie)果之(zhi)間的差(cha)值,不(bu)得超過(guo)電子天平在(zai)該(gai)載(zai)荷(he)下的最大允許(xu)誤差(cha)的絕(jue)對值∣MPE∣。以(yi)XP205型電子天平為(wei)例(li),可選擇標稱(cheng)質(zhi)量(liang)為(wei)200 g的E2砝(fa)碼(ma)進行重(zhong)復性測定,測量(liang)過(guo)程(cheng)中每(mei)次加(jia)載(zai)前(qian)可置(zhi)零

          2.2.2 示值誤(wu)差

          根(gen)據電子天平計(ji)量(liang)專業人員(yuan)總(zong)結(jie)的經(jing)驗,如(ru)果天平示值誤(wu)差核查不通(tong)過(guo),則(ze)該天(tian)平80%~100%最大秤量(liang)的示值誤(wu)差必(bi)然(ran)不符(fu)合要(yao)求(qiu)[6],因此(ci)該載(zai)荷(he)點的示值誤(wu)差結(jie)果有(you)壹定的代(dai)表(biao)性。核查時,從(cong)零載(zai)荷(he)起(qi),逐(zhu)漸(jian)往(wang)上加(jia)砝(fa)碼,直至天平最大秤量(liang)的80%~100%,然(ran)後逐(zhu)漸(jian)往(wang)下卸(xie)載,直(zhi)到零(ling)載(zai)荷(he)為(wei)止(zhi),測量(liang)過(guo)程(cheng)中加(jia)載(zai)前(qian)不可(ke)置(zhi)零。測量(liang)點數應≥6點,試(shi)驗載荷(he)應(ying)包(bao)括(kuo)空載、最小秤量(liang)、MPE轉換點附(fu)近(jin)對(dui)應(ying)的載(zai)荷(he)和(he)最大秤量(liang)。仍以(yi)XP205型電子天平為(wei)例(li),測量(liang)點應(ying)選零載荷(he)、最小秤量(liang)10 mg、MPE轉換點5 g和(he)20 g附近(jin)、最大秤量(liang)180 g~220 g範圍中的某壹點。第(di)六個測量(liang)推(tui)薦(jian)選取此(ci)天平常(chang)用(yong)的稱(cheng)量(liang),如(ru)100 mg。在(zai)加(jia)載(zai)過(guo)程(cheng)中,砝(fa)碼(ma)應依(yi)次放(fang)上秤盤,多個砝碼(ma)應(ying)均勻(yun)放(fang)置(zhi)在(zai)秤盤中心(xin)位置(zhi)。除零(ling)載外(wai),每個載荷(he)點可(ke)能(neng)由壹個或(huo)壹組(zu)砝碼(ma)構(gou)成(cheng)。在(zai)加(jia)載(zai)和(he)卸(xie)載過(guo)程(cheng)中,任(ren)壹載荷(he)點的測量(liang)讀數與相對應(ying)砝(fa)碼(組(zu))的質(zhi)量(liang)折算(suan)值(和(he))的差(cha)即為(wei)示值誤(wu)差,結(jie)果均不(bu)得大於天(tian)平在(zai)相應載(zai)荷(he)時(shi)的∣MPE∣。

          3 日常(chang)核查

          電子天平在(zai)每(mei)天(tian)使用前(qian),應由專人進行日常(chang)核查。日常(chang)核查的判斷(duan)依(yi)據(ju)均(jun)同期間(jian)核查,但所(suo)選用的項(xiang)目(mu)和(he)砝碼個數均可(ke)在(zai)期(qi)間(jian)核查的基礎上簡(jian)化(hua)。帶(dai)內(nei)校功(gong)能的天(tian)平應(ying)首(shou)先(xian)啟(qi)動(dong)天(tian)平內(nei)部(bu)自動校(xiao)準(zhun),內(nei)校通(tong)過(guo)後(hou),再(zai)用(yong)砝(fa)碼測定示值誤(wu)差,應(ying)不得過(guo)天(tian)平在(zai)該(gai)載(zai)荷(he)點下的∣MPE∣。

          對於Ⅰ級天平,可(ke)選擇兩(liang)個重(zhong)量(liang)範圍的砝(fa)碼(ma):(1)用80%~100%最大秤量(liang)的單(dan)個砝碼(ma),用(yong)其示值誤(wu)差結(jie)果可大致判斷(duan)出整(zheng)個量(liang)程的示值誤(wu)差是(shi)否符(fu)合要(yao)求(qiu);(2)接近(jin)常(chang)用(yong)最小秤量(liang)的單(dan)個砝碼(ma)。對(dui)於Ⅱ級或(huo)Ⅲ級天平,則(ze)僅選擇80%~100%最大秤量(liang)的單(dan)個砝碼(ma)即可。取單個砝碼(ma)可(ke)避免(mian)多個砝碼(ma)引起的誤(wu)差(cha)的疊(die)加(jia)。以(yi)XP205天平為(wei)例(li),日常(chang)核查可分(fen)別(bie)取200 g和(he)20 mg的E2砝(fa)碼(ma)稱(cheng)量(liang),將測得值與(yu)相應的砝(fa)碼(ma)折算(suan)質(zhi)量(liang)值相減(jian),若結(jie)果的絕(jue)對值分(fen)別(bie)不大於0.15 mg和(he)0.05 mg,則核查通(tong)過(guo)。日常(chang)核查壹般不(bu)需要(yao)核查天平的重(zhong)復性,每(mei)個砝碼(ma)僅需進行壹次稱(cheng)量(liang)即可。

          4 討(tao)論

          1)當天(tian)平期(qi)間(jian)核查不通(tong)過(guo)時(shi),應立(li)即停(ting)止使用,同時(shi)對(dui)最近(jin)壹次檢(jian)定或(huo)核查後用此(ci)天平開展的檢(jian)測工作(zuo)進行追溯,並(bing)評估(gu)其影(ying)響(xiang)。天平須(xu)經(jing)重(zhong)新(xin)檢(jian)定,或(huo)經(jing)維(wei)修後(hou)達(da)到檢(jian)定規程(cheng)的技(ji)術要求後(hou),方能重(zhong)新(xin)開始工作(zuo)。

          2)當日常(chang)核查的結(jie)果不符(fu)合要(yao)求(qiu)時(shi),也應立即停(ting)止使用,組(zu)織(zhi)技(ji)術人員(yuan)比(bi)較前(qian)壹段時(shi)間日常(chang)核查的數據,並(bing)查找原因。若80%~100%最大秤量(liang)的單(dan)個砝碼(ma)的示值誤(wu)差結(jie)果不符(fu)合要(yao)求(qiu),可(ke)以(yi)根(gen)據天平的實際稱(cheng)量(liang)範圍,取適當重(zhong)量(liang)的單(dan)個砝碼(ma)進行稱(cheng)量(liang),計算(suan)示值誤(wu)差。若示值誤(wu)差的絕(jue)對值不(bu)大於天(tian)平在(zai)此(ci)載荷(he)點下的∣MPE∣,則(ze)可(ke)以取該砝碼(ma)的重(zhong)量(liang)作(zuo)為(wei)後(hou)續(xu)檢(jian)測工作(zuo)的最高稱(cheng)量(liang)點,應(ying)及時(shi)做好(hao)變更記錄,並在(zai)天(tian)平上顯(xian)著位置(zhi)標示修改後(hou)的稱(cheng)量(liang)範圍[藥(yao)研(yan)公(gong)眾(zhong)號整(zheng)理(li)排版]。

          3)對天平進行日常(chang)核查,可以簡化(hua)由於天(tian)平未(wei)通(tong)過(guo)檢(jian)定或(huo)期(qi)間(jian)核查而(er)導致(zhi)的對(dui)實驗室相關(guan)檢(jian)測數據的追(zhui)溯,減(jian)小對檢(jian)測結(jie)果的影(ying)響(xiang),降低實驗室的風(feng)險和(he)成本,更(geng)有(you)效地維(wei)護和(he)保障實驗室自身和(he)客戶的利(li)益(yi)。電子天平期(qi)間(jian)核查以及日常(chang)核查均為(wei)實驗室量(liang)值溯源(yuan)的重(zhong)要(yao)組(zu)成部(bu)分(fen),作(zuo)為(wei)藥(yao)品質(zhi)量(liang)控制(zhi)實驗室,在(zai)質(zhi)量(liang)管理(li)過(guo)程(cheng)中應(ying)重(zhong)視(shi)這兩(liang)項核查工作(zuo),將其作(zuo)為(wei)保證檢(jian)測結(jie)果準(zhun)確(que)性的有(you)力砝(fa)碼。

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